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Q-Tech Crystal質(zhì)量保證檢測方法

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瀏覽:- 發(fā)布日期:2019-01-23 11:33:17【
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  晶振作為廣泛使用在電子產(chǎn)品領(lǐng)域的普遍電子元件,對質(zhì)量的要求是比較高的,一旦在質(zhì)量方面出了問題,直接導(dǎo)致一整個產(chǎn)品的不良,可見一個產(chǎn)品的質(zhì)量是有多重要.而該篇文章龍湖電子主要是介紹美國頗有名氣的Q-Tech公司是通過什么方法如何確保了產(chǎn)品的質(zhì)量保證,做到以質(zhì)量贏得市場.

  Q-Tech Crystal在美國加利福尼亞州卡爾弗城的35,000平方英尺的工廠內(nèi)運營,通過了AS9100和ISO 9001質(zhì)量管理體系認(rèn)證.公司在北美,歐洲和亞洲均設(shè)有銷售部門,業(yè)務(wù)遍及全球.Q-Tech以其在體聲波(BAW)和表面聲波(SAW)器件方面的尖端設(shè)計和制造能力而聞名.它不斷致力于研究和開發(fā)關(guān)鍵頻率控制技術(shù),從而改進(jìn)了更高頻率,小型化,低成本和新設(shè)計的領(lǐng)域.

篩選所有石英晶振產(chǎn)品的測試和質(zhì)量一致性

  篩選測試是所有石英晶振產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn).Q-TechCorporation將定制篩選和測試程序以滿足您的特定要求.

對于空間級產(chǎn)品,Q-Tech提供符合-或優(yōu)于-MIL-PRF-55310和MIL-PRF-38534的篩選和質(zhì)量一致性測試.我們的應(yīng)用說明描述了這些要求的不同之處,可在此處找到.

  Q-TechCorporation還提供符合EEE-INST-0002第1級的篩選和質(zhì)量一致性測試.

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  ·MIL-STD-883,方法2017和2032的內(nèi)部視覺

  ·按照MIL-STD-883,方法1008,條件C(150ºC)進(jìn)行穩(wěn)定化烘烤(密封前)

  ·MIL-STD-883,方法1010,條件B(-55ºC至125ºC)的溫度循環(huán)

  ·MIL-STD-883,方法2001,條件A(僅Y1軸,5000g)的恒定加速度

  ·根據(jù)MIL-STD-883,方法1014,條件A的精細(xì)泄漏

  ·按MIL-STD-883,方法1014,條件C的總泄漏

  ·PREBURN-IN電氣測試,輸出頻率和波形,額定電源電壓,額定負(fù)載,+23ºC±1ºC(可選)

  ·BURN-IN(負(fù)載)帶有標(biāo)稱電源電壓和老化負(fù)載的通電振蕩器在125ºC下測試最少160小時.

  ·最終電氣測試:測試輸入電流功率,輸出頻率,輸出波形和輸出電壓功率

質(zhì)量協(xié)調(diào)檢驗(QCI)

  質(zhì)量一致性檢驗(QCI)是所有MIL-PRF-55310產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)配置.樣品單元按照A組和B組的檢驗批要求進(jìn)行測試.

  對于空間級產(chǎn)品,Q-Tech提供符合-或優(yōu)于-MIL-PRF-55310和MIL-PRF-38534的篩選和質(zhì)量一致性測試.我們的應(yīng)用說明描述了這些要求的不同之處,可在此處找到.

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A組

  •   電氣測試:電源電壓,輸入電流,輸出波形,輸出電壓功率,上升和下降時間,占空比和啟動時間(根據(jù)需要)
  • 頻率-溫度穩(wěn)定性:參考溫度下的初始精度,初始頻率-溫度精度和頻率-溫度容差
  •   頻率電壓容差:當(dāng)石英晶體振蕩器電源電壓調(diào)整到指定的額定值,達(dá)到最大/最小值時,測量輸出頻率
  • 過電壓不存在:過電壓比規(guī)定的最大值高20%
  •   視覺和機械:根據(jù)MIL-PRF-55310驗證材料,設(shè)計,結(jié)構(gòu),工藝,物理尺寸和標(biāo)記
  •   可焊性測試:按照MIL-STD-202,方法208

B組

  •   老化試驗:OSC晶振在烘箱中通電,在70ºC±3ºC下連續(xù)30天.輸出頻率在MIL-PRF-55310的最大72小時間隔內(nèi)測量

C組測試

  每24個月,對MIL-PRF-55310產(chǎn)品進(jìn)行C組檢驗.DSCC審查并批準(zhǔn)了測試數(shù)據(jù).該數(shù)據(jù)成為通用測試數(shù)據(jù),可根據(jù)客戶要求提供.

  對于空間級晶振產(chǎn)品,Q-Tech提供符合-或優(yōu)于-MIL-PRF-55310和MIL-PRF-38534的篩選和質(zhì)量一致性測試.我們的應(yīng)用說明描述了這些要求的不同之處,可在此處找到.

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C組

  •   根據(jù)MIL-PRF-55310,MIL-STD-202,方法204的非振動(正弦波)
  •   按照MIL-STD-202,方法213(非操作)進(jìn)行沖擊(指定脈沖)
  •   根據(jù)MIL-STD-202,方法107的熱沖擊
  •   符合MIL-STD-202,方法105和MIL-PRF-55310的環(huán)境壓力(運行和非運行)
  •   根據(jù)MIL-PRF-55310存儲溫度
  •   根據(jù)MIL-STD-202,方法210,對耐熱性的耐受性
  •   耐濕性每MIL-STD-202,方法106
  •   鹽霧每MIL-STD-883,法1009
  •   MIL-STD-202的終端強度,方法211
  •   根據(jù)MIL-STD-202,方法215對溶劑的耐受性

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    【本文標(biāo)簽】:美國進(jìn)口Q-Tech Crystal Q-Tech晶振質(zhì)量檢測 晶振檢測方法
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